新聞資訊
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本試驗箱用于確定機(jī)載設(shè)備,飛行器,航天器,無人飛機(jī)等暴露于結(jié)冰環(huán)境中必須工作的性能特性如溫度、高度和濕度的恒定以及濕度快速變化。
機(jī)載設(shè)備結(jié)冰的試驗?zāi)康?,設(shè)備設(shè)計者在評估最終應(yīng)用和使用決定的要求時必須考慮這些條件,這些試驗一般適用于安裝在飛機(jī)或飛行器的外表面上或不控溫區(qū)域內(nèi)的設(shè)備,這些地方通常會隨飛行高度的變化遇到溫度、氣壓和濕度的快速變化。如《RTCA/DO-160G機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗程序》第24章所規(guī)定的結(jié)冰試驗程序規(guī)定了評價各種結(jié)冰條件對性能或機(jī)載設(shè)備影響的試驗方法,即:
a、粘附于設(shè)備外部的冰或霜的影響;
b、由冷凝水凍結(jié)或融化的冰重新凍結(jié)產(chǎn)生的冰的影響;
c、由直接暴露的水引起的積冰的影響。
A類試驗:這類試驗用于安裝在飛機(jī)外部或非控溫區(qū)內(nèi)的設(shè)備,安裝在該處的設(shè)備由于冷浸在極端低溫下后接著又遇到溫度高于冰點的潮濕空氣產(chǎn)生冷凝,可形成冰或霜。
A類結(jié)冰試驗
B類試驗:這類試驗適用于裝有活動部件的設(shè)備,而它們的活動可能受冰的形成所影響或阻礙,或由于冰膨脹產(chǎn)生的力而使其結(jié)構(gòu)或功能部件受到損壞。設(shè)備內(nèi)部和外部形成的冰是由于冷凝,凍結(jié),融化和(或)再凍結(jié)形成的,而且這種冰可能會在非密封殼體內(nèi)部逐漸積水或冰。
B類結(jié)冰試驗
滿足試驗標(biāo)準(zhǔn):
1.1. GB-T2423.25-2008電式電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
1.2. GB-T2423.26-2008電式電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
1.3. GJB150.2-2009《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法低氣壓(高度)試驗》
1.4. GJB150.2A-2009《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第2部分:低氣壓(高度)試驗》程序Ⅰ貯存/空運,程序Ⅱ工作/機(jī)外掛飛,程序Ⅲ快速減壓
1.5. RTCADO-160G:2010《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和測試程序》第4章溫度和高度(不含過壓)
1.6. RTCADO-160G:2010《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和測試程序》第24章結(jié)冰
1.7. GJB360B-2009《電子及電氣元件試驗方法》方法105 低氣壓試驗
1.8. GJB548B-2005 方法1001 低氣壓《微電子器件試驗方法和程序》方法1001 低氣壓(高空工作)
1.9. GB/T2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗M:低氣壓》
1.10. GB/T4857.13-2005《包裝運輸包裝件基本試驗第13部分:低氣壓試驗方法》
性能參數(shù)指標(biāo):
2.溫度指標(biāo)
2.1 溫度范圍:-65℃~+150℃;解析精度0.01℃)
2.2 常壓到10kpa溫度偏差±2.0℃(空載測試) (溫度穩(wěn)定后,任意時間內(nèi),最高溫度、最低溫度與標(biāo)稱溫度之差)
2.3 常壓到10kpa溫度波動度±0.5℃(溫度穩(wěn)定后,試驗箱內(nèi)任意一點在規(guī)定的時間內(nèi)溫度變化的大小)
2.4 空載:從 室溫 ℃到 -65 ℃≤70min 全程平均
2.5 空載:從 室溫 ℃到 150 ℃≤40min 全程平均
注意事項
以上性能的測試方法參照GB/T5170.2-2008、GB/T5170.5-2008
升降溫速率為空載常壓且環(huán)境溫度為25℃的指標(biāo)
3.壓力指標(biāo)
3.1壓力范圍:常壓~1kPa;壓力解析精度為0.01kPa
3.2壓力偏差:84kPa~40kPa時,±0.3 kPa
25kPa~4kPa時,±0.3kPa
2k-0.5kPa時,±0.1kPa
3.3 壓力升降: 常壓到1kPa 約30分鐘;降壓速率0.1kPa—15kPa/min可調(diào)
升壓速率0.1kPa—15kPa/min可調(diào)
3.4.設(shè)定壓力對應(yīng)高度參見下表
4.壓力溫濕度范圍
4.1 25kPa(模擬萬米高空)到常壓(地面)下濕度指標(biāo)
4.2濕度范圍:20%Rh~95%Rh(全程可控,超出溫濕度區(qū)域能力可定制;濕度解析精度為0.1Rh%)
4.3濕度波動度:≤±3%Rh(濕度穩(wěn)定后,試驗箱內(nèi)任意一點在規(guī)定的時間內(nèi)濕度變化的大小)
4.4濕度偏差:>75%Rh:≤+2,-3%Rh;<75%RH:≤±5%Rh (濕度穩(wěn)定后,任意時間內(nèi),最高濕度、最低濕度與標(biāo)稱濕度之差)
4.5溫濕度區(qū)域能力控制示意圖
25kPa(模擬萬米高空)到常壓(地面)溫濕度圖
(上圖斜線部分濕度最高點測試時持續(xù)穩(wěn)定時間不超12小時)
Simplewell昇微—模擬環(huán)境、可靠性以及VOC等實驗設(shè)備專業(yè)供應(yīng)商。