高加速壽命測試

  通常是指溫度為110℃&120℃&130℃時(shí)相對(duì)濕度為85%的非飽和蒸汽測試。通過加速測試來確認(rèn)包括半導(dǎo)體在內(nèi)的電子元件和材料是否由于耐久性（壽命）或環(huán)境變化而導(dǎo)致功能失效。

1. Simplewell系列HAST具體參數(shù)

2. 滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB-T2423.40-2013環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

IEC 60068-2-66:1994

國際標(biāo)準(zhǔn)：

3.溫度指標(biāo)

    溫度范圍：105℃～150℃標(biāo)準(zhǔn)范圍

    溫度精度：±0.01℃

    溫度分布精度：±0.5℃在100RH%,±1.0℃在85RH%

4.濕度指標(biāo)

     濕度范圍：65％RH～100％RH.

     濕度精度：±0.1％RH

   溫度分布精度：±1.0RH%在85RH%

5.溫度，濕度壓力范圍如下圖

6.循環(huán)風(fēng)道結(jié)構(gòu)

7.運(yùn)行方式：試驗(yàn)類型飽和/不飽和，定值模式/程序模式

7.1輸入方式：中/英文菜單，觸控式人機(jī)對(duì)話方式；

7.2控制方式：溫度，露點(diǎn)控制模式；

7.3程序：50組每周100段，程序組之間可相互鏈接（一組程序最多段數(shù)可大5000步）。 并且每組程序內(nèi)可設(shè)定4組段循環(huán)以及32000總循環(huán)；

7.4結(jié)束方式：自然冷卻或線性降溫可選；

7.5結(jié)束后：恢復(fù)常壓后保持一定溫度或自動(dòng)干燥（50～90℃），或排水后自動(dòng)自然冷卻。   

7.6具有帶電池保護(hù)的SRAM，可保存設(shè)備的設(shè)定值、采樣值及采樣時(shí)刻的時(shí)間，可在屏上手指觸摸實(shí)時(shí)滑動(dòng)觀察數(shù)據(jù)；

7.7試驗(yàn)數(shù)據(jù)采集

1．屏界面曲線輸出：直接把觸摸屏上曲線界面存成*.bmp圖片存到U盤里

2．USB功能：配16G U盤1個(gè)

3．數(shù)據(jù)輸出：保成*.csv數(shù)據(jù)文件（非曲線圖），采樣周期可以在屏上設(shè)置；可用Excel等電子表格軟件打開處理

7.8故障提示記錄功能：當(dāng)檢測到故障時(shí)，自動(dòng)彈出對(duì)應(yīng)故障畫面與解決方案，并記錄故障發(fā)生的日期以及故障，故障信息具有斷電保存功能。

Simplewell昇微—模擬環(huán)境、可靠性以及VOC等實(shí)驗(yàn)設(shè)備專業(yè)供應(yīng)商。